OYO 광원장치
UPLUS ENGINEERING광원장치
AW1040 Series
멀티(병렬) 측정 가능한 Wide 조사영역 광원 장치
AW104X series는 CCD/CMOS 이미지 센서용 각종 테스터에 접속시켜 디바이스 테스트를 서포트하는 광원장치입니다.
여러 개의 동시 측정을 가능하게 하는 넓은 조사 영역과 높은 균일성을 실현한 광원장치입니다.
유효 조사 영역은 Φ110mm 입니다.
![](/pimg/p10_1.jpg)
AW1050 Series
멀티(병렬) 측정 가능한 Wide 조사영역 광원 장치
AW105X series는 대형 사이즈의 CCD/CMOS 이미지 센서용 각종 테스터에 접속시켜 디바이스 테스트를 서포트하는 광원장치입니다.
여러 개의 동시 측정을 가능하게 하는 넓은 조사 영역과 높은 균일성을 실현한 광원장치입니다.
유효 조사 영역은 90x104mm 입니다.
![](/pimg/p10_2.jpg)
AW2170 Series
300mm Wafer에 대응하기 위한 넓은 조사 영역 제공 가능한 광원 장치
AW2170 series는 300mm Wafer에 대응하기 위한 넓은 영역의 조사 area를 제공합니다.
기존의 광원과 동일한 Uniformity / Accuracy / Max illuminace를 제공합니다.
유효 조사 영역은 154x154mm 입니다.
![](/pimg/p10_3.jpg)