OYO 광원장치
UPLUS ENGINEERING광원장치
AW1040 Series
멀티(병렬) 측정 가능한 Wide 조사영역 광원 장치
AW104X series는 CCD/CMOS 이미지 센서용 각종 테스터에 접속시켜 디바이스 테스트를 서포트하는 광원장치입니다.
여러 개의 동시 측정을 가능하게 하는 넓은 조사 영역과 높은 균일성을 실현한 광원장치입니다.
유효 조사 영역은 Φ110mm 입니다.
AW1050 Series
멀티(병렬) 측정 가능한 Wide 조사영역 광원 장치
AW105X series는 대형 사이즈의 CCD/CMOS 이미지 센서용 각종 테스터에 접속시켜 디바이스 테스트를 서포트하는 광원장치입니다.
여러 개의 동시 측정을 가능하게 하는 넓은 조사 영역과 높은 균일성을 실현한 광원장치입니다.
유효 조사 영역은 90x104mm 입니다.
AW2170 Series
300mm Wafer에 대응하기 위한 넓은 조사 영역 제공 가능한 광원 장치
AW2170 series는 300mm Wafer에 대응하기 위한 넓은 영역의 조사 area를 제공합니다.
기존의 광원과 동일한 Uniformity / Accuracy / Max illuminace를 제공합니다.
유효 조사 영역은 154x154mm 입니다.
